感應耦合電漿發射光譜儀 (ICP-OES) 在工業和學術應用中表現出色，可對金屬、化學品、石化產品和其他材料進行最先進的元素分析。
創新的 MultiView設計讓使用者可以在 90 秒或更短的時間內將徑向觀測“轉換”為軸向觀測，反之亦然。

MultiView現在包括雙向電漿觀察。兩個光學接口的設計同時增加了感度並消除了污染/基質兼容性問題。
偵測器使用先進CMOS技術，可消除光溢現象，能讀取高強度波長周圍之微量元素的低信號，提供高動態偵測範圍。

光譜儀的設計確保在長期、可靠的使用壽命內保有極低運作成本。

免額外氬氣吹掃 UV-PLUS 密封氣體淨化技術、獨有的空氣冷卻系統、可選配的智慧閥門系統和用於遠程監控的便攜式攝影機。