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商品名稱:
XRF元素分析儀
規格介紹:
專為高通量測試和光譜化學分析而設計的手持式 XRF 元素分析儀
分析大部分合金僅需兩秒,識別含輕元素的合金僅需7秒,標準校正可分析合金和貴金屬,涵蓋16種基質及46種元素分析。
儀器可在開機後10秒內做好測量準備,在各種位置(USB驅動器、網路或印表機)以各種格式同步儲存結果。
非金屬樣本的合規測試和快速篩查。攝影機提供準確定位樣本和記錄測量點。
詳細介紹:
專為高通量測試和光譜化學分析而設計的手持式 XRF 元素分析儀
分析大部分合金僅需兩秒,識別含輕元素的合金僅需7秒,標準校正可分析合金和貴金屬,涵蓋16種基質及46種元素分析。
更多商品
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500 手持便攜式XRF 分析系統
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500 是市面上最精確的移動式 XRF 儀器. 三點支撐可確保測量結果的可重複性. 它確保儀器在測量過程中始終放置正確並保持穩定. 高品質矽漂移偵測器 (SDD) 保證了分析多層塗層和鋅鎳等合金塗層所需的精度. 緊湊型測量裝置的特點: 它只需一次測量即可並行檢測層的厚度和成份. 一機兩用. 用於實驗室質量的塗層厚度測量和材料分析的移動式通用儀器 移動使用. 室內外均可靈活使用 精確和準確. 三點支撐和幾何形狀可確保與樣品的安全接觸 充分的彈性. 可變測量方向,用於測量大體積物體甚至小零件 長時間操作. 電池充電可持續運作長達六小時
FISCHERSCOPE X-RAY XUL210 220 XULM240X射線螢光鍍層測厚及材料分析儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®/XUL® 儀器是緊湊型多功能 XRF 測量設備,非常適合無損塗層厚度測量和材料分析. 借助集成比例計數管檢測器,它們可以實現快速測量,尤其是對於大測量距離和複雜形狀的樣品,甚至是小測量點. 這些功能以及許多其他功能使這些設備成為品質保證、進貨檢驗和生產監控領域(尤其是電鍍領域)不可或缺的工具。 ★鐵上鍍鋅或鐵上鋅鎳等電鍍,作為大量生產零件(螺帽和螺栓)的腐蝕保護) ★電鍍液金屬含量的測定 ★裝飾塗層 Cr/Ni/Cu/ABS ★電子產業連接器和接點的塗層 ★手動測量 PCB ★手錶和珠寶行業的測量
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231 232 237X射線螢光鍍層測厚及材料分析儀
XDLM® 系列配備微聚焦管、多個孔徑和初級濾光片換器,是逐一檢查許多小零件的最佳選擇. 儀器與儀器密切相關XULM系列,只有一個顯著差異: 從上到下測量方向! 這意味著: 方便分析不均勻的樣品以及自動測量的可能性,因此適用於品質保證、進貨檢驗和生產監控. 作為 PCB 的特殊解決方案,此裝置可作為XDLM PCB。 ★鐵上的電鍍層(例如鋅)可起到防腐蝕作用 ★大量生產零件的系列測試 ★特殊鋼的成分分析,如A4的鉬檢測 ★裝飾性鉻塗層,例如. 鉻/鎳/銅/ABS ★所有典型的鉻塗層 - 以及 CrVI 等新塗層 ★測量 PCB 上的功能性金塗層,例如 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB ★電子產業連接器和接點的鍍層,如 Au/Ni/Cu 和 Sn/Ni/Cu ★電鍍液金屬含量的測定
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 220 230 240X射線螢光鍍層測厚及材料分析儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 系列儀器專門用於品質保證、進貨檢驗和生產監控中的測量. 它們與XULM系列,有一個顯著差異: 測量方向自上而下! 這意味著您可以方便地分析不均勻的樣品以及自動測量的可能性。 ★鐵上的電鍍層(例如鋅)可起到防腐蝕作用 ★大量生產零件的系列測試 ★裝飾性鉻塗層,例如. 鉻/鎳/銅/ABS ★所有典型的鉻塗層,例如 Cr(VI) 和新型鉻塗層,例如 Cr(III) ★Au/Ni/Cu/PCB 等 PCB 上功能性金塗層的測量 ★電子產業連接器和接點的鍍層,如 Au/Ni/Cu 和 Sn/Ni/Cu ★電鍍液金屬含量的測定
X-50 XRF手持式X射線螢光分析儀
XRF X-50 高效能核芯搭配Pin二極體檢測器(Pin Diode),同規格最高強度45K cps計數器,能滿足RoHS、金屬PMI、貴金屬、土壤等多元應用,低成本維護費用及高速運算效能,提供給企業品質把關、快速篩選、高CP值利器。 ◆<1.6公斤(含電池) ◆Pin檢測器 ◆4W功率 ◆IP54防水防塵認證 ◆快篩Pass/Fail判別 ◆應用:RoHS / Alloy / Soil / Mining / Precious Metal Mode
X-200 XRF手持式X射線螢光分析儀
XRF X-200 高效能核芯搭配矽漂移檢測器(Silicon Drift Detector),同規格最高強度125K cps計數器,能滿足RoHS、金屬PMI、貴金屬、土壤等多元應用,低成本維護費用及高速運算效能,提供輕元素管控、低檢測下限、精度要求企業最優質選擇。 ◆<1.6公斤(含電池) ◆SDD檢測器 ◆10W功率、500 uA ◆IP54防水防塵認證 ◆輕元素鋁(Al)、鎂(Mg)、磷(P)等檢測精準 ◆RoHS / Alloy / Soil / Mining / Precious Metal Mode
X-550 XRF手持式X射線螢光分析儀
飆速探測輕元素 成分監控精準款 分秒不差精準型 Sciaps XRF 高效能核芯搭配矽漂移檢測器(Silicon Drift Detector),同規格最高強度125K cps計數器,能滿足RoHS、金屬PMI、貴金屬、土壤等多元應用,低成本維護費用及高速運算效能,提供輕元素管控、低檢測下限、精度要求企業最優質選擇。 Soil 報告 鋁合金 報告 不鏽鋼磷/硫 報告
Z-900系列 LIBS雷射導引光譜儀
LIBS Z-900系列 雷射導引光譜用於材料元素及濃度分析技術, 利用高能量脈衝激發樣品表面所得到特徵波長光束,進行定性及定量分析;1秒內快速分析金屬成分濃度,超低檢測下限輕易分析各種牌號,同時分析碳濃度及碳當量(C.E),樣品無須前處理加上微量取點,不受樣品外觀且易於攜帶提升測試效率,無輻射安全疑慮及低耗材消耗成本,提供金屬PMI、品質管控、進出料檢測等企業最佳選擇。 ◆低於1.6公斤最輕巧 ◆碳含量及CE碳當量 ◆PMI 合金分析 五金回收 ◆牌號判別及元素成分顯示 ◆5-6mJ高強度脈衝及1064nm雷射光源 ◆IP54防水防塵認證 ◆高純度氬氣瓶 (選配) ◆多點數據平均分析
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