CMI563 表面銅測厚儀
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CMI563 表面銅測厚儀
規格介紹:CMI563 表面銅測厚儀
CMI563系列表面銅測厚儀專為測量剛性及柔性、單層及雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔測厚儀器 。
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服務時間週一至週五,
早上08:30~12:00、下午13:00~17:30
詳細介紹:
產品介紹
CMI563提供先進的技術,可對表面銅實施準確的測量,同時確保PCB的背面銅箔不會干擾到讀數(不考慮覆銅版的厚度)。借助我們的CMI563,您可以輕鬆實現覆銅板、化學銅或有電鍍銅的精確厚度量測。
該儀表是如下方面的理想之選:
1. PCB製造和裝配。
2. 面銅厚度。
我們的CMI563可對柔性或鋼性的單面、雙層或多層板材實施卓越性能的表面銅厚度量測。
產品特色
* CMI563採用微電阻測試技術,提供精確測試表面銅銅厚(包括化學銅和電鍍銅板)的方法。由於採用了目前市場上最為先進的測試技術,無論絕緣板層多厚,印刷電路板背面銅層不會對精確可信的測量結果產生影響。
* CMI563採用可由用戶自行更換的SRP-4探針,相對於整個探頭的更換,更換探針更為方便和經濟。
* CMI563可由用戶選擇所測試的銅箔類型,即化學銅或電鍍銅,無需用戶校準即可測量銅箔厚度,此外亦提供比對片供驗證使用。