電解式膜厚計
產品項目
商品名稱:
規格介紹:
FISCHER CMS2 電解式膜厚計
規格介紹:FISCHER CMS2 電解式膜厚計
COULOSCOPE CMS2 系列的儀器是利用電解進行退鍍,進而測量塗層厚度。尤其是,可透過庫倫法精準地測定任何種類基質上的多層塗層。CMS2 STEP 版本可對單層塗層進行符合標準的 STEP 測試測量,亦可偵測電位差 (如多層鍍鎳的品質控制)。
詳細產品介紹請參考下圖
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服務時間週一至週五,
早上08:30~12:00、下午13:00~17:30
詳細介紹:
特性:
- 採用高準確性的電解退鍍技術 (庫侖法),可精準測量多層塗層
- 配備顯示器和支援圖形的使用者指南,操作簡單
- 應用範圍廣:可測量金屬和非金屬基質上的塗層,亦適合測量多層塗層
- 完整的配件組合供您選擇,適合特定要求
應用:
- 金屬和非金屬基質上任何種類的金屬塗層
- 單層及多層的塗層厚度測量
- 特別適用於透過 STEP 測試進行多層鍍鎳的測量
- 適用於 0.05 µm 至 40 µm 的塗層厚度