詳細介紹

本量測系統具備四大核心優勢，能大幅提升光學材料的檢測效率與準確度：

1. 獨家分光器與超高 Retardation 量測 系統搭載專門開發的分光器，能夠一次性擷取約 500 個波長的光譜數據，免去傳統設備繁瑣的濾波片切換過程。這不僅讓量測精度大幅提升，更突破了傳統技術的極限，能夠對「超複折射膜」進行高達 60,000 nm 的超高 Retardation 高速、高精度量測。
2. 無損的多層量測技術 對於由多種光學膜疊合而成的複雜材料，本系統採用「非破壞性」的量測方式。使用者無需將膜材剝離，即可直接在疊層狀態下，精準測出每一層的相位差與軸角度。這對於檢測 OLED 圓偏光板或積層相位差膜等產品極為便利。
3. 智慧軸角度補償功能 在實際操作中，樣品的擺放往往會產生微小的角度誤差。本系統內建「軸角度補償功能」，即使樣品設置有偏差，系統也能自動進行補償計算，輕鬆完成高再現性的量測，確保數據的穩定與精準（重複誤差可控制在 0.01 度以下）。
4. 直覺且高效率的軟體介面 配備簡單易懂的操作軟體，將所有必備功能（如手動位置移動、樣本示意圖、量測結果圖表等）整合在同一個畫面中，做到「一目了然」。順暢的操作引導大幅縮短了量測與數據解析的時間，有效提升整體的作業效率。