統計型膜厚計373系列

產品項目

商品名稱:

(已停產)KETT 統計型膜厚計373系列

規格介紹:

電磁膜厚計LE-373/渦電流膜厚計LH-373/雙功能膜厚計LZ-373
LE-373用於鋼.鐵等磁性金屬物上的電鍍(電解鎳除外)及非磁性被膜膜厚量測。
LH-373用於鋁合金.不銹鋼等非磁性金屬物上的絕緣被膜膜厚量測,對於鋁合金上的陽極或硬陽處理等薄膜, 皆可精確量測。
LZ-373適用於磁性金屬上的非磁性被膜及非磁性金屬上的絕緣被膜膜厚量測,為雙功能膜厚計.適用於多種素材及多樣被膜厚度量測,是適合工作現場使用的膜厚計。

詳細產品介紹請參考下圖
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服務時間週一至週五，
早上08:30～12:00、下午13:00～17:30

詳細介紹:

日本KETT LZ-373兩用膜厚計，具備獨立式探測頭，可以用來測定磁性體及非磁性金屬物上的被膜厚度量測。LZ-373兩用膜厚計包含了電磁膜厚計LE-373及渦電流膜厚計LH-373的所有功能，可針對多樣的素材、多樣的被膜量測，例如：鋅、硬鉻、化學鎳、塗裝、烤漆、電著、陽極處理、皮膜處理、鐵氟龍、砝瑯、達可锈、各種非金屬被膜等，為最適合於現場使用的膜厚測定儀。

LZ-373膜厚計是電子產業最信賴的膜厚計，無論是陽極處理、各種零件的表面處理都可提供非常良好的測量結果。

型號	LZ-373
測定方式	電磁誘導／渦電流式兩用
測定對象	磁性體上的非磁性被膜及非磁性金屬上的絕緣被膜
測定範圍	電磁誘導式：0~2500um或99.0mils 渦電流式：0~1200um或47.0mils
測定精度	50um以下：±1um；50um以上1000um以下：±2% 1000um以上：±3%
最小解析	100um以下：0.1um；100um以上：1um
符合規範	電磁誘導式：JIS K5600-1-7、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840、BS 3900-C5 ASTM B499、ASTM D7091-5、ASTM E376 渦電流式：JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840、BS 3900-C5、ASTM D7091-5、ASTM E376
記憶容量	約39,000點
檢量曲線	具100條檢量曲線記憶容量（電磁誘導式50條；渦電流式50條）
測頭型式	一點接觸定壓式（LEP-J、LHP-J）
顯示方式	具背光式LCD數值顯示，最小解析0.1um
外部輸出	個人電腦(USB & RS-232C)
使用電源	單3鹼性電池x4只
消費電力	80mW(背光關閉時)
電池壽命	約100小時(背光關閉、連續使用)
操作溫度	0~40℃
附加機能	檢量曲線選擇、基體校零、資料刪除、資料記憶、上下限設定、統計計算、選擇顯示、日期時間、自動關閉時間、背光亮度、背光時間、單位切換、資料輸出、自動批號、測定方式、維修模式
尺寸重量	75(W)x145(D)x31(H)mm、0.34kg
標準附件	校正標準片x6片、標準片盒子、鐵素材、鋁素材、曲面固定器、攜帶皮套組、鹼性電池x4只
選購配件	校正標準片、LW-990測定台、電腦傳輸線、RS-232C & USB轉換線、LDL-03資料管理軟體